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XAN 220 金屬分析 X 射線熒光測量儀信息
更新時間:2025-06-03   點擊次數:70次
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 是一款專為貴金屬分析優化的用戶友好型臺式能量色散 X 射線熒光(EDXRF)測量儀,可對珠寶、硬幣、貴金屬及其合金的成分和涂層厚度進行快速無損分析。其創新設計與智能化功能融合,為實驗室及生產現場提供精準、高效的檢測解決方案。

核心優勢:操作便捷性與技術先進性兼具

1. 人性化結構設計,試樣定位精準高效

  • 自下而上測量架構
    X 射線源與半導體探測器集成于儀器下腔室,通過透射式窗口支撐樣品,測量方向從樣品下方穿透,無需人工調整角度,尤其適合戒指、硬幣等不規則形狀樣品的快速定位。

  • 高清視頻顯微鏡輔助
    內置帶變焦功能與十字準線的視頻顯微鏡,可實時放大樣品細節(如珠寶鑲嵌點、硬幣齒紋),精準鎖定微米級測量區域,避免因定位偏差導致的檢測誤差。

2. 智能化軟件平臺,全流程無縫管控

  • WinFTM® 專業分析軟件

    • 一鍵式操作:從測量參數設置(30/40/50kV 三檔電壓可調)、數據采集到多元素濃度 / 涂層厚度結果生成全程自動化,兼容固體、液體及多層涂層樣品。

    • 可視化數據分析:以圖表形式動態呈現元素占比(如金、銀、鉑含量)、涂層厚度分布(如銠鍍層均勻性),支持歷史數據對比,便于批量樣品質量追溯。

    • 合規性報告生成:內置DIN ISO 3497(貴金屬純度測定)與ASTM B 568(鍍層厚度測量)標準模板,自動匹配檢測結果,簡化第三方認證流程。


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